Hitachi High-Tech Corporation

Japon

Retour au propriétaire
1-4 de 4 pour Hitachi High-Tech Corporation Trier par
Recheche Texte
Marque
Canada - CIPO
Affiner par Reset Report
Classe NICE
09 - Appareils et instruments scientifiques et électriques 2
11 - Appareils de contrôle de l'environnement 2
07 - Machines et machines-outils 1
Résultats pour  marques

1.

ZONETEM

      
Numéro d'application 156733200
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2012-03-06
Date d'enregistrement 2013-02-27
Propriétaire Hitachi High-Tech Corporation (Japon)
Classes de Nice  ? 11 - Appareils de contrôle de l'environnement

Produits et services

(1) UV cleaning and sanitizing equipment for laboratory specimen samples and microscopes.

2.

ZONESEM

      
Numéro d'application 156733300
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2012-03-06
Date d'enregistrement 2013-02-27
Propriétaire Hitachi High-Tech Corporation (Japon)
Classes de Nice  ? 11 - Appareils de contrôle de l'environnement

Produits et services

(1) UV cleaning and sanitizing equipment for laboratory specimen samples and microscopes.

3.

FLATMILLING

      
Numéro d'application 139848400
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2008-06-06
Date d'enregistrement 2011-10-24
Propriétaire Hitachi High-Tech Corporation (Japon)
Classes de Nice  ?
  • 07 - Machines et machines-outils
  • 09 - Appareils et instruments scientifiques et électriques

Produits et services

(1) Ion milling machines for preparing cross sections of specimens for observation with an electron microscope; software for use with ion milling machines for preparing cross sections of specimens for observations with an electron microscope.

4.

nanoDUE'T

      
Numéro d'application 131040400
Statut Enregistrée
Date de dépôt 2006-07-13
Date d'enregistrement 2012-03-06
Propriétaire Hitachi High-Tech Corporation (Japon)
Classes de Nice  ? 09 - Appareils et instruments scientifiques et électriques

Produits et services

(1) Scanning electron microscopes; scanning transmission electron microscopes; Focused ion beam system for the design, inspection and manufacture of semiconductors; compatible specimen holders for scanning electron microscopes, scanning transmission electron microscopes, scanning transmission electron microscopes, and focused ion beam systems; electronic devices to integrate focused ion beam systems with a scanning transmission electron microscope or a transmission electron microscope for the design, inspection and manufacture of semiconductors (2) SEM (Scanning Electron Microscope), STEM (Scanning Transmission Electron Microscope), FIB (Focused Ion Beam system); compatible specimen holders for scanning electron microscopes, scanning transmission electron microscopes, scanning transmission electron microscopes, and focused ion beam systems; electronic devices to integrate focused ion beam systems with a scanning transmission electron microscope or a transmission electron microscope for the design, inspection and manufacture of semiconductors