- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 21/88 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
Détention brevets de la classe G01N 21/88
Brevets de cette classe: 6098
Historique des publications depuis 10 ans
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2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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---|---|---|
KLA-Tencor Corporation | 2558 |
283 |
KLA Corporation | 1360 |
219 |
FUJIFILM Corporation | 27857 |
91 |
Hitachi High-Tech Corporation | 4897 |
82 |
Omron Corporation | 7124 |
77 |
ASML Netherlands B.V. | 7055 |
70 |
Samsung Electronics Co., Ltd. | 136984 |
69 |
The Boeing Company | 19828 |
68 |
Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | 29136 |
64 |
NEC Corporation | 33938 |
54 |
LG Energy Solution, Ltd. | 12347 |
52 |
Koh Young Technology Inc. | 338 |
50 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 38446 |
39 |
Applied Materials Israel, Ltd. | 569 |
38 |
Boe Technology Group Co., Ltd. | 37894 |
38 |
Samsung Display Co., Ltd. | 32317 |
35 |
Canon Inc. | 37544 |
33 |
KEYENCE Corporation | 400 |
31 |
Screen Holdings Co., Ltd. | 2593 |
31 |
General Electric Company | 17888 |
30 |
Autres propriétaires | 4644 |